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美国:1st Detect微型质谱仪亮相2012匹兹堡展会

2012-04-23 00:00:00浏览:289评论:0 来源:电控网   
核心摘要:  据美国媒体3月12日报道,美国商业航天航空公司Astrotech的附属公司1st Detect,于当日宣布在美国奥兰多橘州展览中心参加了第

  据美国媒体3月12日报道,美国商业航天航空公司Astrotech的附属公司1st Detect,于当日宣布在美国奥兰多橘州展览中心参加了第62届匹兹堡国际仪器展览会(The Pittcon 2012 Exposition),并在963号展台展出了首款商用MMS-1000(TM)微型质谱仪。该产品专为研究工作实验室市场而设计。

  据悉,该高性能实验室仪器可在大约五秒钟内迅速检测挥发性化合物痕迹量级的MS/MS。富有经验的专业实验室人员现在即可拥有一款真正的结构紧凑、价格合理的质谱仪。

  另悉,1st Detect专利技术为机场、边境安全、急救员、军事、农业、水处理、化工厂、炼油厂、医药制造和过程控制等众多安全与工业市场提供了通用平台。(责任编辑:陆娟)

 

 

(责任编辑:必达)
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